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SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀STZ-3
SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀STZ-3
產(chǎn)品名稱(chēng): SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀STZ-3
產(chǎn)品型號(hào): SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀
產(chǎn)品產(chǎn)地:
產(chǎn)品特點(diǎn): 上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀
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8316 SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀STZ-3 0
SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀STZ-3 詳細(xì)信息

上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 
        一,概述;
SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀,是由二種硅材料測(cè)試儀器組合而成的
1,二量程的電阻測(cè)量?jī)x器,配以手持式四針測(cè)試頭或座式測(cè)試架,可用來(lái)測(cè)量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率
在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。通過(guò)對(duì)恒流源的調(diào)整,可以對(duì)某些測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修整,例如對(duì)普通硅材料的測(cè)試結(jié)果要乘以0.628的探險(xiǎn)頭修正系數(shù),對(duì)硅材料薄層擴(kuò)散和導(dǎo)電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過(guò)調(diào)正恒流電流加以處理。
SZT-5數(shù)字式四探針測(cè)試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對(duì)重?zé)捇亓系姆诌x。
2,整流法硅材料P-N極性判別儀,配有三針手持式探頭,能對(duì)片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進(jìn)行極性判別 
      本儀器工作環(huán)境條件為: 
        溫  度:18℃―25℃ 
            相對(duì)濕度:50%-70% 
      工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電場(chǎng)干擾,不與高頻設(shè)備共用電源。
二,技術(shù)參數(shù)
1,測(cè)量范圍
(1)電阻率測(cè)量: 
      電 阻 率        0.01-200Ω-cm
方塊電阻        0.01-200Ω-口
電    阻        0.01-200.0Ω
2,數(shù)字電壓表   
      (1)量    程 :       200mV單一量程 
      (2)誤    差:      讀數(shù) ±0.2%±3字
(3)輸入電阻 :      >10MΩ
3,恒 流 源 
      (1)電流輸出          0~10mA連續(xù)可調(diào) 
      (2)量    程             1mA, 10mA 
      (3)誤     差             ±0.2%±3字,
4,手持式四探針測(cè)試頭 
  (a)探  針  間  距::      1mm 
  (b)探針機(jī)械游移率:      ±1.0% 
  (c)探  針  材  料:      碳化鎢,φ0.
(d)壓力:  最大 2Kg
(2)導(dǎo)電類(lèi)型判別:
可對(duì)電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導(dǎo)電類(lèi)型測(cè)定,同時(shí)可以聲,光報(bào)警方式表示被測(cè)材料屬于”重?fù)?rdquo;。

 

 

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上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)SZT-4數(shù)字式四探針測(cè)試儀
SZT-4數(shù)字式四探針測(cè)試儀,是二量程的電阻測(cè)量?jī)x器,配以手持式測(cè)試頭或座式測(cè)試架,可用來(lái)測(cè)量片狀,柱狀,或塊狀,電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。(客戶(hù)根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程,最小可以測(cè)量0.0001Ω最大可以測(cè)量100000Ω,根據(jù)電流檔定精度)通過(guò)對(duì)恒流源的調(diào)整,可以對(duì)某些測(cè)量結(jié)果進(jìn)行修整,例如對(duì)普通硅材料的測(cè)試結(jié)果要乘以0.628的探險(xiǎn)頭修正系數(shù),對(duì)硅材料薄層擴(kuò)散和導(dǎo)電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過(guò)調(diào)正恒流電流加以處理。SZT-4數(shù)字式四探針測(cè)試儀,體形小巧,操作方便,量程適中,十分適於對(duì)重?zé)捇亓系姆诌x。本儀器工作環(huán)境條件為:
              溫  度:18℃―25℃
            相對(duì)濕度:60%-80%
      工作室內(nèi)應(yīng)無(wú)強(qiáng)電場(chǎng)干擾,不與高頻設(shè)備共用電源。
二,技術(shù)參數(shù) 
1,測(cè)量范圍
      電 阻 率        0.01-200Ω-cm
      方塊電阻      0.01-200Ω-口
      電    阻        0.01-200.0
2,數(shù)字電壓表 
      (1)量    程 :       200mV單一量程
      (2)誤    差:      讀數(shù) ±0.2%±3字
(3)輸入電阻 :      >10MΩ
3,恒 流 源
      (1)電流輸出               0~10mA連續(xù)可調(diào)
      (2)量    程             1mA, 10mA 
      (3)誤     差             ±0.2%±3字,
4,手持式四探針測(cè)試頭
(1)探  針  間  距::      1mm 
  (2)探針機(jī)械游移率:      ±1.0%
  (3)探  針  材  料:      碳化鎢,φ0.
        (4)壓力:  最大 2Kg
          5,電源: 220V±10%:50Hz
            功耗:5W
6,外形尺寸;
7,使用方法:取出儀器平放於桌上,將三芯電源線(xiàn)接入儀器的電源插座中,并接通交流電壓(220V),再將測(cè)試探頭的插頭插入相應(yīng)的插座中,按下電源開(kāi)關(guān)使儀器得電,儀器上的數(shù)字電壓表就有讀數(shù)顯示,如果面板上的二個(gè)功能開(kāi)關(guān)全部處?kù)稄棾鰻顟B(tài),則二個(gè)開(kāi)關(guān)旁邊的“調(diào)整”指示燈和:“1mA”指示燈將被點(diǎn)亮,此時(shí)旋轉(zhuǎn)電流調(diào)節(jié)旋鈕電壓表讀數(shù)就會(huì)發(fā)生有規(guī)則的變化,這說(shuō)明儀器已經(jīng)可以正常工作。
下一步就可以跟據(jù)測(cè)試的須要對(duì)電流進(jìn)行調(diào)整。電流調(diào)整應(yīng)該將電流開(kāi)關(guān)放在10mA的位置上。
8,電流調(diào)整:
(1)半導(dǎo)體(硅)材料的電阻率測(cè)試:
在10mA電流量程上將電流調(diào)到6.28mA,相當(dāng)于在10mA電流情況下測(cè)得的結(jié)果,乘以探頭修正系數(shù)0.628。
  由於恒流源的調(diào)整,1mA和10mA是同步的,在`10mA調(diào)準(zhǔn)以后1mA量程同樣包含有這個(gè)修正系數(shù)。
(2)半導(dǎo)體(硅)材料薄層擴(kuò)散,玻璃或塑料的薄導(dǎo)電鍍復(fù)層的方塊電阻 測(cè)試:
在10mA電流量程上將電流調(diào)至4.53mA, 測(cè)得結(jié)果乘以10,就是方塊電阻。
      (3)電阻測(cè)試: 電阻測(cè)試不能使用探頭,必須換用帶有鱷魚(yú)夾子的四線(xiàn)插頭
                    “電阻測(cè)試線(xiàn)”(選配件)。電流調(diào)到10mA,電壓表的顯示值
就是電阻值,不用修正。
(4)在做好測(cè)試前的準(zhǔn)備工作之后,取下探頭保護(hù)蓋,將探頭壓在被測(cè)工件上,使四根探針和工件保持良好接觸,
使用時(shí)的注意事項(xiàng);
(1) 保護(hù)蓋取下后一定要保存好,用畢仍要蓋好,以防探針損壞。
(2) 儀器操作時(shí),應(yīng)備戴乾燥手套,操作場(chǎng)地,桌椅均應(yīng)保持乾燥。
(3) 在被測(cè)材料外形尺寸允許的情況下,建議使用臺(tái)式測(cè)試架(選購(gòu)件),可使測(cè)試精度和穩(wěn)定性都會(huì)有所提高。
(4) 對(duì)於被測(cè)工件為片狀其厚度<3.49毫米時(shí),還應(yīng)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行厚度修正,修正參數(shù)見(jiàn)參數(shù)表,附錄`1A和附錄1B 。
(5) 附錄2,是對(duì)片狀工件外形(園形,矩形)和測(cè)量位置的修正參數(shù)表。
 

 

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上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)STZ-3型半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀  主要說(shuō)明:
       STZ—3型半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀是為了鑒別硅單晶材料的導(dǎo)電類(lèi)型 “P”和 “N”的測(cè)量?jī)x器,是采用溫差效應(yīng)和整流效應(yīng)兩種方法相結(jié)合綜合性的測(cè)量導(dǎo)電型號(hào)儀器,測(cè)量范圍廣硅材料電阻率從10-2~104Ω•cm,儀器采用美國(guó)16位單片集成電路計(jì)算機(jī)為核心,利用數(shù)字采集濾波技術(shù),并用 “P” “N”數(shù)碼直接顯示。采用了單片機(jī)技術(shù)可使測(cè)量的準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性大幅度提高。儀器采用手持式四探然探頭,使用簡(jiǎn)單,操作方便,且壽命長(zhǎng),適合半導(dǎo)體材料廠(chǎng)、器件廠(chǎng)和科研部門(mén)需要。
用作太陽(yáng)能多晶材料分選時(shí),采用整流法,對(duì)<0.01Ω-cm的材料具有聲光報(bào)警功能,廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池生產(chǎn)的原材料篩選環(huán)節(jié),快速高效。
主要技術(shù)指標(biāo):
1. 測(cè)量范圍:硅單晶材料電阻率10-2~104Ω•cm
2.  可測(cè)量材料:半導(dǎo)體硅棒和硅片,及硅碎顆粒。
    可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸:Φ15~Φ150 mm以上。
3.  顯示方式:P、N 燈顯示。
4.  測(cè)試探頭:手持式 探針間距3 mm         探針Φ1mm 高速鋼
5.  電源:220V 50HZ 20W

 

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SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀STZ-3 同類(lèi)產(chǎn)品
四探針頭/紅寶石探針頭/電動(dòng)測(cè)試架/手動(dòng)測(cè)試架/軟件     碳纖維電阻率測(cè)試裝置測(cè)試儀     QJ36C電線(xiàn)電纜導(dǎo)體電阻材料電阻率智能測(cè)試儀QJ-36C     SH-ST2248 ST-2248A型數(shù)字式多功能四探針測(cè)試儀、SZ-82數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率     ST-11型導(dǎo)電類(lèi)型鑒定儀、SH-ST251 SH-ST251A數(shù)字式方阻測(cè)試儀     SX-1934(原SZ82)數(shù)字式四探針測(cè)試儀SX1934(原SZ-82)SX1944     KV-SP-HY210實(shí)驗(yàn)室用高精度手動(dòng)絲印臺(tái)KV-SP-HY220     KV-FPB-SP02四探針直流低電阻測(cè)試儀     FP-001四探針直流低電阻測(cè)試儀     KV-EC-7300電致變色器件循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)     RTS-11型金屬四探針測(cè)試儀 半自動(dòng)四探針測(cè)試儀     WCT-100型硅單晶壽命測(cè)試儀、DSY-II型單晶少子壽命測(cè)試儀DSY-2     STY-3導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY-1、NCT-1無(wú)接觸型號(hào)測(cè)試儀     KDB-2A鋁箔直流電阻測(cè)試儀、KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測(cè)試儀方阻     KDA-1智能四探針電阻率/方阻測(cè)試儀方塊電阻測(cè)試儀     KDY-4四探針電阻率/方阻測(cè)試儀方塊電阻測(cè)試儀     KDY-1A便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀 KDY-1M手持式方塊電阻測(cè)試儀     KDB-1涂層電阻率/方塊電阻測(cè)試儀(廣量程) KDB-3雙組合四探針?lè)阶?電阻率測(cè)試儀     KDB-1A雜質(zhì)濃度測(cè)試儀(測(cè)量計(jì)算出晶體內(nèi)的雜質(zhì)濃度)     KDM-100A半絕緣半導(dǎo)體電阻率分布測(cè)繪儀、KDM-1000半絕緣半導(dǎo)體電阻率分布測(cè)繪儀     KDY-20兩探針電阻率測(cè)試儀KDY-2二探針電阻率測(cè)試儀方阻測(cè)試儀     XX2型方塊電阻測(cè)試儀XX-2     SDY5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀SDY-5     SDY4型四探針測(cè)試儀SDY-4     SDY4型四探針測(cè)試儀(配DJ1測(cè)試臺(tái))     DLY-2導(dǎo)電類(lèi)鑒別儀 DSY-2單晶少子壽命測(cè)試儀DSY-II、FJDY-1非接觸硅片電阻率測(cè)試儀     TD-C鍍層電阻測(cè)量?jī)xTDC方塊電阻/薄膜電阻     SX-1903型PN類(lèi)別鑒定儀SX1903數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)     SX-1934B型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)SX1934B     ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測(cè)試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭     LT-2單晶少子壽命測(cè)試儀LT-3高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀     Metal Comdux 2010多功能導(dǎo)電率測(cè)試器Comdux-2010導(dǎo)電率測(cè)試儀     SX-1944數(shù)字式四探針測(cè)試儀SX1944四探針測(cè)試計(jì)SX1934 SZ82     SX-1934C型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)SX1934C四探針測(cè)試儀     KDY-I四探針電阻率方塊電阻測(cè)試儀KDY-1四探針電阻率/方阻測(cè)試儀(低阻型)     STY-2導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY2導(dǎo)電型號(hào)測(cè)量?jī)x、STY-2R型全類(lèi)型整流法導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY2R     LT-1 LT-1B高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀LT-1C LT-100C數(shù)字硅晶體少子壽命測(cè)試儀     FQR-7501 FQR-7502型渦流導(dǎo)電儀FQR7501 FQR7502     FZ-2006 FZ-2010型半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀FZ-2006A FZ2010     STZ-8型半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)PN鑒別儀STZ8     BD-86A型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀BD86A     SZT-2000型數(shù)字式四探針測(cè)試儀SZT2000     GL-1型二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀GL1兩探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀     DB-4電線(xiàn)電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀DB4 DB-4A電阻儀     BT-900A型電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻測(cè)試儀BT900A     EWC-2型電線(xiàn)電纜金屬導(dǎo)體電阻率測(cè)試裝置EWC2     ST-1型數(shù)字式電線(xiàn)電纜導(dǎo)線(xiàn)電阻測(cè)試儀ST1     ST-2型數(shù)字式電線(xiàn)電纜導(dǎo)線(xiàn)電阻測(cè)試儀ST2     GD-9102型半導(dǎo)電電阻測(cè)試儀GD9102     SYZ-90礦用電纜過(guò)渡電阻測(cè)試儀SYZ90     FZ-9601粉末電阻率測(cè)試儀FZ9601     FZ-2000型粉末電阻率測(cè)試儀FZ2000     TA-901型多功能炭素材料電阻率測(cè)試儀TA901     TA-902型炭素材料電阻率測(cè)試儀TA902     TA-903型炭素電極接頭電阻率測(cè)試儀TA903     TA-904型電炭制品電阻率測(cè)試儀TA904     ST-102A/102B/S-2A/2B/2C/J-2B/J-52/DJ-Ⅱ手動(dòng)電動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)探針臺(tái)     RTS-8型數(shù)字式四探針測(cè)試儀RTS8半自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀     RTS-9型數(shù)字雙電測(cè)四探針測(cè)試儀RTS9四探針?lè)綁K電阻電阻率測(cè)定儀     RTS4型數(shù)字式四探針測(cè)試儀RTS-4、RT-70/RG5四探針測(cè)試儀     RTS5型數(shù)字雙電測(cè)四探針測(cè)試儀RTS-5半自動(dòng)四探針測(cè)試儀     RTS2 RTS2A RTS3型便攜式四探針測(cè)試儀RTS-2 RTS-2A RTS-3     RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件     PN12/PN12A、PN30型導(dǎo)電類(lèi)型鑒別儀PN-12/PN-12A、PN-30     CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 CV-5000、HLY-2型直流恒流源     SZT-1型數(shù)字式四探針測(cè)試儀 SZT-2A SZT-2四探針測(cè)試儀     GM-I、GM-II電阻率自動(dòng)測(cè)定儀GM-III型便攜式大規(guī)格炭-石墨制品電阻率自動(dòng)測(cè)定儀     GM-2、GM-II型智能材料試驗(yàn)機(jī)    
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