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ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭
ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭
產(chǎn)品名稱: ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭
產(chǎn)品型號: ST-21型方塊電阻測試儀
產(chǎn)品產(chǎn)地:
產(chǎn)品特點: 上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)ST-20、ST-21、SRM-232型方塊電阻測試儀ST-21H
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7339 ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭 0
ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭 詳細信息

上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)ST-21型方塊電阻測試儀  
     
ST-21型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。 
    該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心;用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源;帶回路有效正常指示電路;并配以大型LCD顯示讀數(shù),使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
◆ 特點:
1
 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩(wěn)定,低功耗;
2
 以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰;
3
 采用單個電池供電,帶電池欠壓指示;
4
 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5
 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6
 探頭帶抗靜電模塊
技術(shù)指標:

測量范圍
 按方塊電阻量值大小分為二個量程檔:
  1.方塊電阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方塊電阻 10.0~1999.9Ω/□;
恒流源
 測量過程誤差:≤±0.8%
模數(shù)轉(zhuǎn)換器
 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕顯示;極性,超量程均自動顯示;小數(shù)點同步顯示;
測量不確定度
 在整個量程范圍內(nèi),測量不確定度≤5%
四探針探頭規(guī)格
 間距:1mm或3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
電源
 9V疊層電池1節(jié)
品名
ST-21型方塊電阻測試儀
價格
 
特點/規(guī)格
 

*.四探針方塊電阻測試儀中的新一代產(chǎn)品,按國家   標準和美國A.S.T.M標準設(shè)計,專門測量半導(dǎo)體   薄層電阻(表面電阻率)的新型儀器。 可用于   測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻   璃)、金屬膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻(表面   電阻率)。
* 輕便手持式設(shè)計操作、測試簡便;
*.特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接   觸被測材料及保護薄膜;
*.以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰;
*測量范圍:按方塊電阻量值大小分為二個量程檔
  1.方塊電阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方塊電阻 10.0~1999.9Ω/□;

 

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ST-20
 
    ST-20掌上型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
 
◆ 特點
 
1
 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測量準確穩(wěn)定
2
 低功耗
3
 采用單個電池供電,帶電池欠壓指示
4
 儀器體積僅為:130mmX65mm X23mm
5
 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜
6
 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 技術(shù)指標:
 
測量范圍
基本量程:方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴展量程:方塊電阻100-1999(Ω/口)
測量不確定度
≤5%
探針規(guī)格
 探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ
恒流源
 測量過程誤差:≤±0.8%
電源
 9V疊層電池1節(jié)
品名
ST-20掌上型方塊電阻測試儀
價格
 
特點/規(guī)格
 

*.是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準   而設(shè)計專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型   儀器。 可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜   (ITO透明氧化膜)、金屬膜……等同類物質(zhì)的薄   層電阻。
*.測量范圍:
   基本量程:方塊電阻 10.0—199.9(Ω/□)
   擴展量程:方塊電阻 100—1999(Ω/□)
*.體積:130*65*23、低功耗;
 

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SRM-232
 
   SRM-232型方塊電阻測試儀是手持式方塊電阻測試儀,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
    SRM-232型方塊電阻測試儀根據(jù)不同的測量范圍分成以下四種型號:SRM-232-10、SRM-232-100、SRM-232-1000、SRM-232-2000;
 
◆ 特點
 
1
 輕便手持式設(shè)計
2
 127個數(shù)據(jù)測試點保存
3
 通過RS-232與電腦通訊
 
◆ 技術(shù)指標:
 
SRM-232-10
 測量范圍: 0.000~9.999(Ω/□)
 分辨率:0.004(Ω/□)
SRM-232-100
 測量范圍:00.00~95.00(Ω/□)
 分辨率:0.04(Ω/□)
SRM-232-1000
 測量范圍0~1000(Ω/□)
 分辨率:0.4(Ω/□)
SRM-232-2000
 測量范圍:0~2000(Ω/□)
 分辨率:0.8(Ω/□)
品名
SRM-232型方塊電阻測試儀
價格
 
特點/規(guī)格
 

*.輕便手持式設(shè)計;
*.127個數(shù)據(jù)測試點保存;
*.通過RS-232與電腦通訊;
*.測量范圍(四種型號的產(chǎn)品不同的測量范圍):
  0.000~9.999 (Ω/□)-SRM-232-10
  00.00~95.00 (Ω/□)-SRM-232-100
  0~1000(Ω/□)-SRM-232-1000
  0~2000(Ω/□)-SRM-232-2000

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詳細資料及相關(guān)圖片
品名
HP系列四探針探頭
價格
 
特點/規(guī)格
 

*.特制之手握式探筆;
* 球形探針、鍍金探針;
*.有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷;
*.探頭帶抗靜電模塊;
◆ 可選配HP系列四探針探頭的型號及規(guī)格:
型號
 
曲率半徑
 
壓力
探針間距
 
探針排列
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直線
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直線
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直線
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直線

 
詳細資料及相關(guān)圖片
品名
SP-601型方型四探針探頭
價格
 
特點/規(guī)格
 

*.專用于測量小樣品;
* 球形探針、鍍金探針;
*.有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷;
*.探頭帶抗靜電模塊;
◆ SP-601型方型四探針探頭規(guī)格:
型號
 
曲率半徑
 
壓力
探針間距
 
探針排列
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形

 
品名
SP-2型四探針探頭
價格
 
特點/規(guī)格
 

*.探針材質(zhì)碳化鎢;
* 針尖直徑可選:1.6mil、5mil、10mil;
*.探針間距可選:40mil、50mil、62.5mil;
*.探針壓力可選:45克、85克、180克;

ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭 同類產(chǎn)品
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