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KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測(cè)試儀
1、概述
本設(shè)備專用于測(cè)量金屬薄膜方塊電阻，上海華巖公司的KDB-2B測(cè)試儀嚴(yán)格參照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求研制，運(yùn)用了先進(jìn)的半導(dǎo)體薄層測(cè)量技術(shù)，無(wú)需特別制樣，可測(cè)不規(guī)則的金屬薄膜。
2、技術(shù)參數(shù)
（1）測(cè)量范圍：0.0001-19.999Ω/m
（2）測(cè)量電流分兩檔：100mA和1000mA
（3）數(shù)字表：測(cè)量范圍0-19.999mV，靈敏度1μV
（4）供電電源：
交流電壓：220V±10%
頻率：50Hz±5%
消耗功率：≤12W
（5）外形尺寸：425mm（含前把手）×102mm×362mm（寬×高×深）
（6）儀器重量：7.5Kg

KDB-2A鋁箔直流電阻測(cè)試儀
1、概述
本設(shè)備專用于測(cè)量鋁箔直流電阻，傳統(tǒng)的鋁箔直流電阻是測(cè)量一條長(zhǎng)1m，寬10.0mm的鋁箔電阻，單位為Ω/m電阻（寬度10.0mm）。
華巖公司的KDB-2A測(cè)試儀嚴(yán)格參照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)SEMIMF374-0307對(duì)設(shè)備的要求研制，運(yùn)用了先進(jìn)的半導(dǎo)體薄層測(cè)量技術(shù)，無(wú)需特別制樣，可測(cè)不規(guī)則的鋁箔。
2、技術(shù)參數(shù)
（1）測(cè)量范圍：鋁箔直流電阻測(cè)量范圍（3位有效數(shù)字）：0.001-199.99Ω/m
（2）測(cè)量電流分兩檔：100mA和1000mA
（3）分辨率：0.001Ω/m
（4）方形試樣尺寸：長(zhǎng)×寬≥16mm×16mm
（5）圓形試樣尺寸：直徑D≥16mm
（6）試樣厚度：t≤28μm（約）
（7）探針間距：1.59mm
（8）擴(kuò)展讀數(shù)：測(cè)量值為兩位數(shù)時(shí)，直流電阻測(cè)量最低值擴(kuò)大至0.010Ω/m；試樣厚度擴(kuò)大至t≤280μm