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DLY-2導(dǎo)電類鑒別儀 DSY-2單晶少子壽命測試儀DSY-II、FJDY-1非接觸硅片電阻率測試儀
DLY-2導(dǎo)電類鑒別儀 DSY-2單晶少子壽命測試儀DSY-II、FJDY-1非接觸硅片電阻率測試儀
產(chǎn)品名稱: DLY-2導(dǎo)電類鑒別儀 DSY-2單晶少子壽命測試儀DSY-II、FJDY-1非接觸硅片電阻率測試儀
產(chǎn)品型號: DLY2導(dǎo)電類鑒別儀.DSY單晶少子壽命測試儀.FJDY非接觸硅片電阻率測試儀
產(chǎn)品產(chǎn)地:
產(chǎn)品特點(diǎn): 上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)DLY2導(dǎo)電類鑒別儀.DSY-II單晶少子壽命測試儀.FJDY-1非接觸硅片電阻率測試儀
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5526 DLY-2導(dǎo)電類鑒別儀 DSY-2單晶少子壽命測試儀DSY-II、FJDY-1非接觸硅片電阻率測試儀 0
DLY-2導(dǎo)電類鑒別儀 DSY-2單晶少子壽命測試儀DSY-II、FJDY-1非接觸硅片電阻率測試儀 詳細(xì)信息

上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)DLY2導(dǎo)電類鑒別儀.DSY單晶少子壽命測試儀.FJDY非接觸硅片電阻率測試儀

編號 品名  
142098 DLY-2型導(dǎo)電類型測試儀  
142100 DSY-Д型單晶少子壽命測試儀(高頻光電導(dǎo)法;配示波器)  
142102 FJDY-1型非接觸硅片電阻率測試儀  

        DLY2型導(dǎo)電類型測試儀 采用溫差電法(也稱冷熱探筆法)和整流法來判斷單晶硅的導(dǎo)電類型的新一代專用測試儀器.特別采用了平面輕觸式開關(guān)設(shè)計(jì);可隨機(jī)調(diào)零;各種工作狀態(tài)LED指示;自動(dòng)加熱,恒溫;以及大型LED數(shù)碼管直接顯示單晶(或多晶)的導(dǎo)電類型(N型或P型).具有體積小、重量輕、性能穩(wěn)定、測試簡便、準(zhǔn)確可靠等優(yōu)點(diǎn)。
DLY2導(dǎo)電類型測試儀 本儀器完全符合硅單晶物理測試國家標(biāo)準(zhǔn)及美國A.S.T.M.標(biāo)準(zhǔn)中有關(guān)要求?蓾M足大專院校,科研及生產(chǎn)單位對硅材料棒的縱向、截面及片子的導(dǎo)電類型判斷的需要。
DLY-2導(dǎo)電類型測試儀   技術(shù)指標(biāo)
1、可判斷硅材料的電阻率范圍:
     溫差電法:0.0001-104Ω.cm;
     整流  法: 0.01-104Ω.cm
2、硅單晶直徑及長度:不受限制;
3、顯示方式:用大型LED數(shù)碼管分別直接顯示;
4、探頭:
   溫差電法:采用冷熱兩根探筆,熱筆為鎢棒,冷筆為高速鋼棒或鎢棒;
   整流法:采用三根探針,用鎢針或高速鋼針;
5、電源及功耗:AC  220V±10%;  50Hz;功率<30W;
6、外形尺寸:主機(jī) 360X 365 X125mm;
7、使用環(huán)境: 溫度:室溫;相對濕度≤80%; 無高頻干擾;無強(qiáng)光照射。

 

上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)DSY-II型單晶壽命測試儀
          DSY-2單晶少子壽命測試儀--用于測量硅單晶的非平衡少 數(shù)載流子壽命。 它是檢驗(yàn)半導(dǎo)體單晶質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路 級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶,以及經(jīng)熱處理后壽命驟降 的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。
DSY-2單晶少子壽命測試儀-- 主要技術(shù)性能:
* 測試單晶電阻率范圍: >3Ω.cm;
* 可測單晶少子壽命范圍: 20μS-5000μS;
* 配備光源類型:紅外光源,波長:1.09μm;余輝<10 μS; 閃光頻率為:20-30次/秒;
* 高頻振蕩源:用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz:
* 前置放大器:放大倍數(shù)約25,頻寬2 Hz-1 MHz;
* 儀器測量重復(fù)誤差:<±20%;
* 測量方式:采用對標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式;
* 儀器消耗功率:<25W;

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