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RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件
RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件
產(chǎn)品名稱(chēng): RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件
產(chǎn)品型號(hào): RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件
產(chǎn)品產(chǎn)地:
產(chǎn)品特點(diǎn): 上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件
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8250 RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件 0
RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件 詳細(xì)信息

上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)RTS7型二探針測(cè)試儀RTS-7 
       RTS-7 型 二 探 針 測(cè) 試 儀    
         RTS-7型二探針測(cè)試儀是運(yùn)用二探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專(zhuān)用于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的專(zhuān)用儀器。
    儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、二探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
    儀器采用了最新電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
    本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。 
    技術(shù)指標(biāo)

 測(cè)量范圍
 電阻率:10-4~105 Ω.cm; 分辨率:10-3Ω.cm;
恒流源
 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
數(shù)字電壓表
 量程及表示形式:000.00~199.99mV;    
 分辨力:10μV;
 輸入阻抗:>1000MΩ;
 精度:±0.1% ;
 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性、超量程自動(dòng)顯示;
二探針探頭基本指標(biāo)
 間距:3mm(可選其它間距);
 針間絕緣電阻:≥1000MΩ;
 機(jī)械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm;
 探針壓力:5~16 牛頓(總力);
二探針探頭應(yīng)用參數(shù)
 (見(jiàn)探頭附帶的合格證)
模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行)
  0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
測(cè)試架
 配置T-2A測(cè)試架,兩端電極Ф8mm~20mm(可選其他尺寸訂做)
計(jì)算機(jī)通訊接口
 并口
標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
 溫度:23±2℃;
 相對(duì)濕度:≤65%;
 無(wú)高頻干擾;
 無(wú)強(qiáng)光直射;

品名
RTS-7型二探針測(cè)試儀
價(jià)格
按選配置
特點(diǎn)/規(guī)格

*.運(yùn)用二探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,專(zhuān)用于測(cè)試半導(dǎo)體材料縱向電阻率的專(zhuān)用儀器。測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果;
*.測(cè)量范圍 - 電阻率:10-4~105 Ω·cm

配置
二探針測(cè)試儀主機(jī)、T-2A測(cè)試架、二探針探頭
 
配置
二探針測(cè)試儀主機(jī)、T-2A測(cè)試架、二探針探頭、測(cè)試軟件(含測(cè)控模塊)
 
配置
二探針測(cè)試儀主機(jī)、T-2A測(cè)試架、二探針探頭、臺(tái)式電腦
 
配置
二探針測(cè)試儀主機(jī)、T-2A測(cè)試架、二探針探頭、IBM筆記本電腦
 
備注
用戶可按實(shí)際需要選擇配置,電腦可按用戶要求以市場(chǎng)價(jià)配置或自行購(gòu)置安裝測(cè)試軟件即可

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上海華巖儀器設(shè)備有限公司供應(yīng)FT系列四探針探頭

    FT系列四探針探頭是采用綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料、機(jī)械結(jié)構(gòu)優(yōu)良彈簧片、耐磨和硬度高的探針研制的測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠、準(zhǔn)確度高、耐用性能好四探針探頭。所有技術(shù)指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)符合ASTM標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)規(guī)定;
    FT系列四探針探頭可安裝于探針測(cè)試臺(tái)也可手持探頭對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試,如對(duì)樣品手持探頭測(cè)試可搭配PH-Ⅱ型把手有效提高測(cè)試效率,此測(cè)試方式廣泛應(yīng)用于硅多晶料、頭尾料、鍋底料的電阻率分揀;與原有的TZT(9A、9B、9C、9D)系列四探針探頭可替換使用。  
  *由于采用了綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料四探針探頭有如下特點(diǎn): 
①尺寸穩(wěn)定性好,成型收縮率小于0.3%,線膨漲系數(shù)小于3x10-6;
②機(jī)械性能優(yōu)異,抗張強(qiáng)度高于120MPa,彎曲強(qiáng)度大于150MPa,彎曲模量大于12GPa;
③電性能優(yōu)異,介電強(qiáng)度大于17kv/mm,介電系數(shù)小于4,體積電阻率在1016數(shù)量級(jí);
④耐腐蝕,除氧化性介質(zhì)外,可以耐幾乎所有的無(wú)機(jī)物質(zhì)腐蝕;在200℃下,不溶于已知的所有機(jī)溶劑;
⑤低吸濕,在23℃水中經(jīng)24小時(shí)浸泡后吸水率小于0.05%;
⑥阻燃性好,其氧指數(shù)大于40,為UV—94V—00/5—V級(jí);
⑦耐高溫,長(zhǎng)期使用溫度180℃; 
    *技術(shù)參數(shù): 
①探針間距:1±0.010mm;
②探針材料:高速鋼或碳化鎢;
③探針壓力:5~8牛頓或12~16牛頓;
④探針機(jī)械游移率:小于0.3%;
⑤探針伸出的長(zhǎng)度:3mm;
⑥針尖錐體夾角:60°;
⑦針間絕緣電阻:大于109Ω;  
    *FT系列四探針探頭對(duì)比及選型:
型號(hào)
探針材料
探針間距
探針直徑
探針壓力
應(yīng)用
 
FT-201
高速鋼
1mm
0.5mm
5~8牛頓
用于測(cè)薄片
 
FT-202
高速鋼
1mm
0.5mm
12~16牛頓
用于測(cè)厚片或棒材
 
FT-203
碳化鎢針
1mm
0.5mm
5~8牛頓
用于測(cè)薄片
 
FT-204
碳化鎢針
1mm
0.5mm
12~16牛頓
用于測(cè)厚片或棒材
 
*可選配件及損耗件:PH-Ⅱ型把手、彈簧片、探針
 

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品名
Cartridge型四探針探頭
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*.NAPSON電阻率測(cè)試系統(tǒng)使用的由Jandel公司生   產(chǎn)的高性能探頭;
*探針材料有碳化鎢和鋨合金兩種規(guī)格;
*針尖半徑曲率有三種規(guī)格:0.0016、0.005、   0.01 英寸;
*針尖壓力180克;
*探針間距有兩種規(guī)格:0.5mm、1mm;

 
 
品名
FT系列四探針探頭
價(jià)格
按選型號(hào)
特點(diǎn)/規(guī)格

*.采用綜合性能優(yōu)異的航空工程塑料、機(jī)械結(jié)構(gòu)   優(yōu)良彈簧片、耐磨和硬度高的探針研制的測(cè)量   數(shù)據(jù)穩(wěn)定、可靠、準(zhǔn)確度高、耐用性能好四探   針探頭。所有技術(shù)指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)符   合ASTM標(biāo)準(zhǔn)有關(guān)規(guī)定;
*.可安裝于探針測(cè)試臺(tái)也可手持探頭對(duì)樣品進(jìn)行   測(cè)試,如對(duì)樣品手持探頭測(cè)試可搭配PH-Ⅱ型   把手有效提高測(cè)試效率,此測(cè)試方式廣泛應(yīng)用   于硅多晶料、頭尾料、鍋底料的電阻率分揀;
*.與原有TZT(9A、9B、9C、9D)系列四探針探頭   可替換使用;

FT-201
高速鋼針、1mm間距、探針直徑0.5mm、探針總壓力5~8牛頓、用于測(cè)薄片
 
FT-202
高速鋼針、1mm間距、探針直徑0.5mm、探針總壓力12~16牛頓、用于測(cè)厚片或棒材
 
FT-203
碳化鎢針、1mm間距、探針直徑0.5mm、探針總壓力5~8牛頓、用于測(cè)薄片
 
FT-204
碳化鎢針、1mm間距、探針直徑0.5mm、探針總壓力12~16牛頓、用于測(cè)厚片或棒材
 
 
品名
TZT系列四探針探頭
價(jià)格
按選型號(hào)
特性/規(guī)格

*.TZT系列四探針探頭采用環(huán)氧澆注研制,它具   有絕緣故性能好、測(cè)試數(shù)據(jù)可靠等特點(diǎn)。其所   有技術(shù)指標(biāo)符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),同時(shí)符合ASTM標(biāo)準(zhǔn)   有關(guān)規(guī)定;

TZT-9A
高速鋼針、1mm間距、探針直徑0.5mm、探針總壓力12~16牛頓、用于測(cè)厚片或棒材
 
TZT-9B
碳化鎢針、1mm間距、探針直徑0.5mm、探針總壓力12~16牛頓、用于測(cè)厚片或棒材
 
TZT-9C
高速鋼針、1mm間距、探針直徑0.5mm、探針總壓力5~8牛頓、用于測(cè)薄片
 
TZT-9D
碳化鎢針、1mm間距、探針直徑0.5mm、探針總壓力5~8牛頓、用于測(cè)薄片
 
 

 

品名
HP系列四探針探頭
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*.特制之手握式探筆;
* 球形探針、鍍金探針;
*.有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷;
*.探頭帶抗靜電模塊;
◆ 可選配HP系列四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格
型號(hào)
 
曲率半徑
 
壓力
探針間距
 
探針排列
HP-501
0.5mm
100g
3.8mm
直線
HP-502
0.75mm
100g
3.8mm
直線
HP-503
0.1mm
150g
1mm
直線
HP-504
0.5mm
100g
1.59mm
直線

 
 
 
品名
SP-601型方型四探針探頭
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*.專(zhuān)用于測(cè)量小樣品;
* 球形探針、鍍金探針;
*.有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷;
*.探頭帶抗靜電模塊;
◆ SP-601型方型四探針探頭規(guī)格:
型號(hào)
 
曲率半徑
 
壓力
探針間距
 
探針排列
SP-601
0.5mm
100g
1.59mm
方形

 
品名
SP-2型四探針探頭
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*.探針材質(zhì)碳化鎢;
* 針尖直徑可選:1.6mil、5mil、10mil;
*.探針間距可選:40mil、50mil、62.5mil;
*.探針壓力可選:45克、85克、180克;

 
品名
HT4高溫四探針探頭
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*四探針探頭由陶瓷制造可在高溫下使用,能   在最高溫度達(dá)650°C下正確測(cè)試數(shù)據(jù)。
*探針材料有碳化鎢和鋨合金兩種規(guī)格。
*針尖半徑曲率有三種規(guī)格:0.0016,0 .005,   0.01 英寸。
*針尖壓力180克。
*探針間距有兩種規(guī)格:0.050,0.0625英寸。

 
品名
Macor型高低溫四探針探頭
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*.材料玻璃陶瓷
*.-200°C~350°C
*.探頭尺寸:0.8" x 0.8" x 1.9".

 
品名
DNT-2型四探針頭
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

 

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探針
品名
FT-HSS
價(jià)格
40
規(guī)格
  高速鋼材料;FT-201、FT-202四探針探頭配用探針
 
品名
FT-WC
價(jià)格
 
規(guī)格
  碳化鎢材料;FT-203、FT-204四探針探頭配用探針
 
品名
SE-T
價(jià)格
 
規(guī)格
  碳化鎢材料、5μm針尖、25mil桿直徑
 
品名
SE-TZ
價(jià)格
 
規(guī)格
  碳化鎢材料、5μm針尖、25mil桿直徑,Z形狀
 
品名
SE-TB
價(jià)格
 
規(guī)格
  碳化鎢材料、25μm針尖、25mil桿直徑
 
品名
SE-20TZ
價(jià)格
 
規(guī)格
  碳化鎢材料、3μm針尖
 
品名
SE-BCB
價(jià)格
 
規(guī)格
  碳化鎢材料、125μm針尖、25mil桿直徑
探針材料對(duì)比:碳化鎢比高速鋼容易折斷; 耐磨性碳化鎢優(yōu)于高速鋼;

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備注:此軟件可以加裝在國(guó)內(nèi)大多數(shù)廠家生產(chǎn)的四探針測(cè)試儀器上使用,只需略改動(dòng)就可以在原有的四探針測(cè)試儀上使用本軟件

品名
FMM四探針測(cè)試軟件
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*.一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶   程序,測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并   采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加   以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地   記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電   腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可   以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,讓用戶對(duì)   數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。
*.詳細(xì)記錄被測(cè)試材料各種參數(shù),結(jié)合測(cè)試數(shù)   據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
*. 以直方圖顯示分析到的數(shù)據(jù)
*. 打開(kāi)、保存、打印測(cè)試材料的數(shù)據(jù)
*. 把測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)出到Excel中進(jìn)行更詳細(xì)的數(shù)據(jù)   分析

 



 

備注:此軟件可以加裝在國(guó)內(nèi)大多數(shù)廠家生產(chǎn)的四探針測(cè)試儀器上使用,只需略加改動(dòng)就可以在原有的四探針測(cè)試儀上使用本軟件實(shí)現(xiàn)雙電測(cè)。

品名
TFMM雙電測(cè)四探針測(cè)試軟件
價(jià)格
 
特性/規(guī)格
 

*.采用了四探針雙位組合測(cè)量新技術(shù),將范德堡   測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流   探針,電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行   兩次電測(cè)量,把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以   分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及   探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影   響,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記   錄、顯示出來(lái)。
*.詳細(xì)記錄被測(cè)試材料各種參數(shù),結(jié)合測(cè)試數(shù)   據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析
*. 以直方圖顯示分析到的數(shù)據(jù)
*. 打開(kāi)、保存、打印測(cè)試材料的數(shù)據(jù)
*. 把測(cè)試數(shù)據(jù)導(dǎo)出到Excel中進(jìn)行更詳細(xì)的數(shù)據(jù)   分析

RTS-7二探針測(cè)試儀RTS7兩探針電阻測(cè)試儀、FT系列四探針探頭/軟件 同類(lèi)產(chǎn)品
四探針頭/紅寶石探針頭/電動(dòng)測(cè)試架/手動(dòng)測(cè)試架/軟件     碳纖維電阻率測(cè)試裝置測(cè)試儀     QJ36C電線電纜導(dǎo)體電阻材料電阻率智能測(cè)試儀QJ-36C     SH-ST2248 ST-2248A型數(shù)字式多功能四探針測(cè)試儀、SZ-82數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率     ST-11型導(dǎo)電類(lèi)型鑒定儀、SH-ST251 SH-ST251A數(shù)字式方阻測(cè)試儀     SX-1934(原SZ82)數(shù)字式四探針測(cè)試儀SX1934(原SZ-82)SX1944     KV-SP-HY210實(shí)驗(yàn)室用高精度手動(dòng)絲印臺(tái)KV-SP-HY220     KV-FPB-SP02四探針直流低電阻測(cè)試儀     FP-001四探針直流低電阻測(cè)試儀     KV-EC-7300電致變色器件循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)     RTS-11型金屬四探針測(cè)試儀 半自動(dòng)四探針測(cè)試儀     WCT-100型硅單晶壽命測(cè)試儀、DSY-II型單晶少子壽命測(cè)試儀DSY-2     STY-3導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY-1、NCT-1無(wú)接觸型號(hào)測(cè)試儀     KDB-2A鋁箔直流電阻測(cè)試儀、KDB-2B金屬薄膜方塊電阻測(cè)試儀方阻     KDA-1智能四探針電阻率/方阻測(cè)試儀方塊電阻測(cè)試儀     KDY-4四探針電阻率/方阻測(cè)試儀方塊電阻測(cè)試儀     KDY-1A便攜式電阻率/方阻測(cè)試儀 KDY-1M手持式方塊電阻測(cè)試儀     KDB-1涂層電阻率/方塊電阻測(cè)試儀(廣量程) KDB-3雙組合四探針?lè)阶?電阻率測(cè)試儀     KDB-1A雜質(zhì)濃度測(cè)試儀(測(cè)量計(jì)算出晶體內(nèi)的雜質(zhì)濃度)     KDM-100A半絕緣半導(dǎo)體電阻率分布測(cè)繪儀、KDM-1000半絕緣半導(dǎo)體電阻率分布測(cè)繪儀     KDY-20兩探針電阻率測(cè)試儀KDY-2二探針電阻率測(cè)試儀方阻測(cè)試儀     XX2型方塊電阻測(cè)試儀XX-2     SDY5型雙電測(cè)四探針測(cè)試儀SDY-5     SDY4型四探針測(cè)試儀SDY-4     SDY4型四探針測(cè)試儀(配DJ1測(cè)試臺(tái))     DLY-2導(dǎo)電類(lèi)鑒別儀 DSY-2單晶少子壽命測(cè)試儀DSY-II、FJDY-1非接觸硅片電阻率測(cè)試儀     TD-C鍍層電阻測(cè)量?jī)xTDC方塊電阻/薄膜電阻     SX-1903型PN類(lèi)別鑒定儀SX1903數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)     SX-1934B型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)SX1934B     ST20/ST21/SRM232型方塊電阻測(cè)試儀ST-20/ST-21H/SRM-232、探針探頭     LT-2單晶少子壽命測(cè)試儀LT-3高頻光電導(dǎo)壽命測(cè)試儀     Metal Comdux 2010多功能導(dǎo)電率測(cè)試器Comdux-2010導(dǎo)電率測(cè)試儀     SX-1944數(shù)字式四探針測(cè)試儀SX1944四探針測(cè)試計(jì)SX1934 SZ82     SX-1934C型數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì)SX1934C四探針測(cè)試儀     KDY-I四探針電阻率方塊電阻測(cè)試儀KDY-1四探針電阻率/方阻測(cè)試儀(低阻型)     STY-2導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY2導(dǎo)電型號(hào)測(cè)量?jī)x、STY-2R型全類(lèi)型整流法導(dǎo)電型號(hào)測(cè)試儀STY2R     LT-1 LT-1B高頻光電導(dǎo)少子壽命測(cè)試儀LT-1C LT-100C數(shù)字硅晶體少子壽命測(cè)試儀     FQR-7501 FQR-7502型渦流導(dǎo)電儀FQR7501 FQR7502     FZ-2006 FZ-2010型半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀FZ-2006A FZ2010     STZ-8型半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)PN鑒別儀STZ8     BD-86A型半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀BD86A     SZT-2000型數(shù)字式四探針測(cè)試儀SZT2000     GL-1型二探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀GL1兩探針單晶硅及多晶硅測(cè)試儀     DB-4電線電纜半導(dǎo)電橡塑電阻測(cè)試儀DB4 DB-4A電阻儀     BT-900A型電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻測(cè)試儀BT900A     EWC-2型電線電纜金屬導(dǎo)體電阻率測(cè)試裝置EWC2     ST-1型數(shù)字式電線電纜導(dǎo)線電阻測(cè)試儀ST1     ST-2型數(shù)字式電線電纜導(dǎo)線電阻測(cè)試儀ST2     GD-9102型半導(dǎo)電電阻測(cè)試儀GD9102     SYZ-90礦用電纜過(guò)渡電阻測(cè)試儀SYZ90     FZ-9601粉末電阻率測(cè)試儀FZ9601     FZ-2000型粉末電阻率測(cè)試儀FZ2000     TA-901型多功能炭素材料電阻率測(cè)試儀TA901     TA-902型炭素材料電阻率測(cè)試儀TA902     TA-903型炭素電極接頭電阻率測(cè)試儀TA903     TA-904型電炭制品電阻率測(cè)試儀TA904     ST-102A/102B/S-2A/2B/2C/J-2B/J-52/DJ-Ⅱ手動(dòng)電動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)探針臺(tái)     RTS-8型數(shù)字式四探針測(cè)試儀RTS8半自動(dòng)四探針電阻率測(cè)試儀     RTS-9型數(shù)字雙電測(cè)四探針測(cè)試儀RTS9四探針?lè)綁K電阻電阻率測(cè)定儀     RTS4型數(shù)字式四探針測(cè)試儀RTS-4、RT-70/RG5四探針測(cè)試儀     RTS5型數(shù)字雙電測(cè)四探針測(cè)試儀RTS-5半自動(dòng)四探針測(cè)試儀     RTS2 RTS2A RTS3型便攜式四探針測(cè)試儀RTS-2 RTS-2A RTS-3     PN12/PN12A、PN30型導(dǎo)電類(lèi)型鑒別儀PN-12/PN-12A、PN-30     CV2000型電容電壓特性測(cè)試儀CV-2000 CV-5000、HLY-2型直流恒流源     SZT-1型數(shù)字式四探針測(cè)試儀 SZT-2A SZT-2四探針測(cè)試儀     SZT-5硅材料復(fù)合測(cè)試儀 SZT-4簡(jiǎn)易四探針測(cè)試儀 SZT-3半導(dǎo)體導(dǎo)電型號(hào)鑒別儀STZ-3     GM-I、GM-II電阻率自動(dòng)測(cè)定儀GM-III型便攜式大規(guī)格炭-石墨制品電阻率自動(dòng)測(cè)定儀     GM-2、GM-II型智能材料試驗(yàn)機(jī)    
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