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HP系 列 四 探 針 探 頭

HP-501型四探針探頭   HP-504型四探針探頭

HP系列四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 特性及規(guī)格：

1  特制之手握式探筆 2  球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷 3  探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞 4  探頭使用壽命長(zhǎng) 5  探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

◆ 可選配HP系列四探針探頭的型號(hào)及規(guī)格：

型號(hào) (Model) 曲率半徑 (Radius) 壓力 (loads) 探針間距 (spacing) 探針排列 (Arrangement) HP-501 0.5mm 100g 3.8mm 直線 HP-502 0.75mm 100g 3.8mm 直線 HP-503 0.1mm 150g 1mm 直線 HP-504 0.5mm 100g 1.59mm 直線

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SP-601型方型四探針探頭

SP-601型方型四探針探頭是一種專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的方型四探針測(cè)試探頭，專用于測(cè)量小樣品的四探針探頭，可用于一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

◆ 特性及規(guī)格：

1  特制之手握式探筆 2  球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜不被損傷 3  探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測(cè)試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞 4  探頭使用壽命長(zhǎng) 5  探針間距：1.59mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

◆ SP-601型方形四探針探頭規(guī)格：

型號(hào) (Model) 曲率半徑 (Radius) 壓力 (loads) 探針間距 (spacing) 探針排列 (Arrangement) SP-601 0.5mm 100g 1.59mm 方形